测细小的试纸什么样？
测细环是利用光学干涉原理来检测工作表面的粗糙度。它是由一定粗糙度值的研磨平晶和测微显微镜组合而成。工作时，将被测表面与研磨平晶相接触，然后加上一稳定的测量力F，在被测表面上磨出一复映纹。由于被测表面粗糙不平，因而复映纹也不可能十分平整，它反映了被测表面轮廓的状况。当把平晶提起之后，被磨的复映纹之间将形成一空气薄膜，并在射光的照射下产生干涉条纹。这种条纹在显微镜中呈现一定形状和亮度不均匀的条纹，简称“测微环”。测微环的形状、间隔和亮度的分布，与被测表面粗糙度以及测量力的大小有关。